TermsVector search on Z-Library for зондовой

寄付 2024年9月15日 – 2024年10月1日募金について

キーワード検索

Main
キーワード検索

1

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Техносфера

Миронов В.Л.

年:

2005

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 7.37 MB

0 / 0

russian, 2005

2

Зондовый метод диагностики плазмы

Зондовый метод диагностики плазмы

Алексеев Б.В., Котельников В.А.

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 36.90 MB

0 / 0

russian

3

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л.

年:

2004

言語:

russian

ファイル:

PDF, 3.24 MB

0 / 0

russian, 2004

4

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

РАН, Институт физики микроструктур

Миронов В. Л.

年:

2004

言語:

russian

ファイル:

PDF, 3.45 MB

0 / 0

russian, 2004

5

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

РАН, Институт физики микроструктур

Миронов В. Л.

年:

2004

言語:

russian

ファイル:

PDF, 3.17 MB

0 / 0

russian, 2004

6

Материалы и методы нанотехнологий [Электронный ресурс] : учебное пособие

Материалы и методы нанотехнологий [Электронный ресурс] : учебное пособие

БИНОМ. Лаборатория знаний

Старостин В. В.

年:

2015

言語:

russian

ファイル:

PDF, 6.58 MB

0 / 0

russian, 2015

7

Материалы и методы нанотехнологий

Материалы и методы нанотехнологий

Издательство "Лаборатория знаний" (ранее "БИНОМ. Лаборатория знаний")

Старостин В.В., Под общ. ред. проф. Патрикеева Л.Н.

年:

2015

言語:

russian

ファイル:

PDF, 7.49 MB

0 / 0

russian, 2015

8

Материалы и методы нанотехнологий

Материалы и методы нанотехнологий

Старостин, В. В.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 8.41 MB

0 / 0

russian

9

Математическое моделирование обтекания тел потоками столкновительной и бесстолкновительной плазмы.

Математическое моделирование обтекания тел потоками столкновительной и бесстолкновительной плазмы.

Издательство "Физматлит"

Котельников В.А., Котельников М.В., Гидаспов В.Ю.

年:

2010

言語:

russian

ファイル:

PDF, 6.10 MB

0 / 0

russian, 2010

10

Электрический зонд в плазме

Электрический зонд в плазме

Атомиздат

Козлов О.В.

年:

1969

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 7.58 MB

0 / 0

russian, 1969

11

Зондовые методы исследования низкотемпературной плазмы

Зондовые методы исследования низкотемпературной плазмы

Энергоатомиздат

Демидов В.И., Колоколов Н.Б., Кудрявцев А.А.

年:

1996

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 2.48 MB

0 / 0

russian, 1996

12

Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Круглов А.В., Голубок А.О.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 3.09 MB

0 / 0

russian

13

Зондовые нанотехнологии в электронике

Зондовые нанотехнологии в электронике

Издательство "Техносфера"

Неволин В.К.

年:

2014

言語:

russian

ファイル:

PDF, 34.35 MB

0 / 0

russian, 2014

14

Зондовые нанотехнологии в электронике.

Зондовые нанотехнологии в электронике.

Невлоин В.

年:

2006

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 5.90 MB

0 / 0

russian, 2006

15

Зондовые методы создания структур наноэлектроники

Зондовые методы создания структур наноэлектроники

Неволин В.К.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 27.64 MB

0 / 0

russian

16

Приборы и методы зондовой микроскопии

Приборы и методы зондовой микроскопии

Дедкова Е.Г., Чуприк А.А., Бобринецкий И.И., Неволин В.К.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 3.32 MB

0 / 0

russian

17

Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова

年:

2008

言語:

russian

ファイル:

PDF, 12.94 MB

0 / 0

russian, 2008

18

Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров. Выпуск 1.

Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров. Выпуск 1.

Научный мир

Яминский И.В., Филонов А.С., Бондаренко В.М., Галлямов М.О., Киселева О.И.

年:

1997

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 1.95 MB

0 / 0

russian, 1997

19

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

ЭБС Лань

Антоненко С.В.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 4.79 MB

0 / 0

russian, 2011

20

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

ЭБС Лань

Антоненко С.В.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 4.79 MB

0 / 0

russian, 2011

21

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

Национальный исследовательский ядерный университет «Московский инженерно-физический институт»

Антоненко С.В.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 4.79 MB

0 / 0

russian, 2011

22

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа. Лабораторный практикум: Учебное пособие

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа. Лабораторный практикум: Учебное пособие

Антоненко С.В.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 4.84 MB

0 / 0

russian, 2011

23

Основы туннельно-зондовой нанотехнологии. Учебное пособие

Основы туннельно-зондовой нанотехнологии. Учебное пособие

МГИЭТ (ТУ)

Неволин Владимир Кириллович

年:

1996

言語:

russian

ファイル:

DJVU, 901 KB

0 / 0

russian, 1996

24

Современные методы оценки качества поверхности деталей машин учебное пособие для проведения практических занятий по курсу «Метрология, стандартизация и сертификация» для студ. всех технических спец. и направ. , каф. «Стандартизация, метрология и сертифик

Современные методы оценки качества поверхности деталей машин учебное пособие для проведения практических занятий по курсу «Метрология, стандартизация и сертификация» для студ. всех технических спец. и направ. , каф. «Стандартизация, метрология и сертифик

言語:

russian

ファイル:

PDF, 13.92 MB

0 / 0

russian

25

Лекции по зондовой диагностике плазмы

Лекции по зондовой диагностике плазмы

Сысун В.И.

言語:

russian

ファイル:

DOC, 4.31 MB

0 / 0

russian

26

Нанотехнологии и микромеханика: Учеб. пособие. – Ч. 4: Зондовые нанотехнологии

Нанотехнологии и микромеханика: Учеб. пособие. – Ч. 4: Зондовые нанотехнологии

Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана

Иванов Ю.А., Башков В.М., Шашурин В.Д., Федоркова Н.В.

年:

2007

言語:

russian

ファイル:

PDF, 872 KB

0 / 0

russian, 2007

27

Нанотехнологии и микромеханика. Ч. 4. Зондовые нанотехнологии

Нанотехнологии и микромеханика. Ч. 4. Зондовые нанотехнологии

МГТУ им. Н.Э. Баумана

Ю.А. Иванов, В.М. Башков, В.Д. Шашурин, Н.В. Федоркова

言語:

russian

ファイル:

PDF, 750 KB

0 / 0

russian

28

Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Коллектив авторов

言語:

russian

ファイル:

PDF, 773 KB

0 / 0

russian

29

Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов

言語:

russian

ファイル:

PDF, 947 KB

0 / 0

russian

30

Мониторинг конструкторско-технологических параметров полупроводниковых гетероструктур с использованием цифровой обработки изображений их поверхности : автореферат диссертации на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : спец.: 05.12.04 - Радиотехника, в том ч

Мониторинг конструкторско-технологических параметров полупроводниковых гетероструктур с использованием цифровой обработки изображений их поверхности : автореферат диссертации на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : спец.: 05.12.04 - Радиотехника, в том ч

Номан М. А. А.

изображений

изображения

параметров

радиотехнических

полупроводниковых

микроскопии

мониторинга

обработки

технологических

результаты

гетероструктур

комбинационного

рассеяния

цифровой

конструкторско

областей

устройств

полупроводниковой

методики

поверхности

электронной

зондовой

исследования

методика

оптоэлектроники

полученных

сканирующей

соискатель

фотоники

гетероструктуры

диссертации

комплекса

различных

сигналов

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.65 MB

0 / 0

russian

31

Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии: Учебное пособие

Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии: Учебное пособие

Неволин В.К.

年:

2000

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.91 MB

0 / 0

russian, 2000

32

Структурные модели процессов накопления повреждений и трещиностойкость конструкционных материалов(Автореферат)

Структурные модели процессов накопления повреждений и трещиностойкость конструкционных материалов(Автореферат)

Лепов В.В.

разрушения

водорода

повреждений

материалов

накопления

дефектов

деформации

процессов

ларионов

поверхности

образцов

поврежденности

напряжений

состояния

структуры

конструкционных

структурно

конструкций

материала

архангельская

материале

условиях

эволюции

деформирования

образования

действием

моделирование

поверхностей

результаты

структурных

элементов

моделирования

нагружения

年:

2006

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.17 MB

0 / 0

russian, 2006

33

Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

ЭБС Лань

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В.

年:

2010

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.59 MB

0 / 5.0

russian, 2010

34

Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 552 KB

0 / 0

russian

35

Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

ЭБС Лань

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С.

年:

2017

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.13 MB

0 / 4.0

russian, 2017

36

Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

ЭБС Лань

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С.

年:

2017

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.13 MB

0 / 4.0

russian, 2017

37

Микромехатроника. Наномехатроника

Микромехатроника. Наномехатроника

Щербинин С. В.

нанотехнологий

нанороботов

развития

механических

наномехатронных

создания

технологий

мехатроники

молекулы

молекулярного

производства

создание

управления

элементов

наномехатроника

молекулярных

наномехатроники

наносборки

объектов

мехатроника

микромеханики

молекулярные

нанопроизводство

наносистемы

проблемы

движения

микросистем

молекулярной

нанотехнологиями

практически

управляемого

химических

являются

восходящего

механики

нанопроизводства

言語:

russian

ファイル:

PDF, 351 KB

0 / 0

russian

38

Методы сканирующей зондовой микроскопии в биофизике

Методы сканирующей зондовой микроскопии в биофизике

言語:

russian

ファイル:

ZIP, 257 KB

0 / 0

russian

39

Наноструктурирование алмазоподобных пленок

Наноструктурирование алмазоподобных пленок

Кузнецова Т.А. и др.

言語:

russian

ファイル:

PDF, 641 KB

0 / 0

russian

40

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Башкирский государственный педагогический университет им.М. Акмуллы

Корнилов В.М., Галиев А.Ф.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.55 MB

0 / 0

russian, 2011

41

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Башкирский государственный педагогический университет им.М. Акмуллы

Корнилов В. М., Галиев А.Ф., рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г.

年:

2011

言語:

russian

ファイル:

PDF, 1.55 MB

0 / 0

russian, 2011

42

Исследование плазмы газового разряда методом двойного зонда

Исследование плазмы газового разряда методом двойного зонда

Орликов Л. Н.

двойного

характеристика

вакуумной

газового

измерений

методические

образования

параметров

указания

характеристики

государственный

исследование

лабораторной

потенциалов

радиоэлектроники

университет

управления

установки

электрона

электронного

давления

зондовая

зондовой

издательство

литература

микроэлектроника

напряжения

определяется

言語:

russian

ファイル:

PDF, 251 KB

0 / 0

russian

43

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

ЭБС Лань

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В.

年:

2014

言語:

russian

ファイル:

PDF, 790 KB

0 / 3.5

russian, 2014

44

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

ЭБС Лань

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В.

年:

2014

言語:

russian

ファイル:

PDF, 790 KB

0 / 4.5

russian, 2014